首頁(yè) >
資料下載 > UV 輻照強(qiáng)度波動(dòng)測(cè)試失效？試驗(yàn)箱如何用雙閉環(huán) PID 實(shí)現(xiàn) ±0.5% 輻照穩(wěn)定性
UV 輻照強(qiáng)度波動(dòng)測(cè)試失效？試驗(yàn)箱如何用雙閉環(huán) PID 實(shí)現(xiàn) ±0.5% 輻照穩(wěn)定性
點(diǎn)擊次數(shù)：16 發(fā)布時(shí)間：2025/6/19
| 提 供 商： |
廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司 |
資料大?。?/td>
| JPG |
| 圖片類型： |
JPG |
下載次數(shù)： |
0 次 |
| 資料類型： |
PNG |
瀏覽次數(shù)： |
16 次 |
|
| 詳細(xì)介紹： |
在 UV 老化試驗(yàn)、固化工藝等應(yīng)用場(chǎng)景中，試驗(yàn)箱 UV輻照強(qiáng)度的穩(wěn)定性直接決定測(cè)試結(jié)果的可靠性。傳統(tǒng)控制方式常因光源衰減、環(huán)境干擾等因素導(dǎo)致輻照強(qiáng)度波動(dòng)，引發(fā)測(cè)試失效。為攻克這一難題，基于雙閉環(huán) PID 控制的解決方案，能夠?qū)崿F(xiàn) ±0.5% 的高精度輻照穩(wěn)定性，為各類 UV 測(cè)試與工藝提供可靠保障。
UV 輻照強(qiáng)度波動(dòng)的根源在于多重干擾因素的疊加影響。一方面，UV 光源（如 UVLED、紫外燈管）存在自然衰減特性，長(zhǎng)期使用后光通量會(huì)逐漸下降；另一方面，環(huán)境溫度變化、電源電壓波動(dòng)等外部因素，也會(huì)導(dǎo)致光源輸出功率不穩(wěn)定。此外，傳統(tǒng)開(kāi)環(huán)控制或單閉環(huán)控制僅依賴單一反饋調(diào)節(jié)，難以同時(shí)應(yīng)對(duì)多種干擾，致使輻照強(qiáng)度波動(dòng)范圍可達(dá) ±5%，嚴(yán)重影響測(cè)試準(zhǔn)確性與工藝一致性。 雙閉環(huán) PID 控制方案通過(guò) “內(nèi)環(huán) + 外環(huán)" 的協(xié)同調(diào)節(jié)機(jī)制，實(shí)現(xiàn)對(duì)輻照強(qiáng)度的精準(zhǔn)控制。內(nèi)環(huán)為功率控制環(huán)，以光源驅(qū)動(dòng)電流或電壓為控制對(duì)象，通過(guò)快速響應(yīng)消除因電源波動(dòng)、光源內(nèi)阻變化等引起的瞬時(shí)功率波動(dòng)。該環(huán)采用高采樣頻率（1000Hz 以上）的電流 / 電壓傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光源輸入功率，并利用 PID 算法快速調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)電路的脈寬調(diào)制（PWM）信號(hào)，使功率輸出快速穩(wěn)定。例如，當(dāng)檢測(cè)到電源電壓突降時(shí)，內(nèi)環(huán)可在毫秒級(jí)內(nèi)增大 PWM 占空比，維持光源輸入功率恒定。
外環(huán)為輻照強(qiáng)度控制環(huán)，以實(shí)際輻照強(qiáng)度為反饋信號(hào)，用于修正因光源衰減、光路變化等慢變因素導(dǎo)致的輻照偏差。高精度 UV 輻照傳感器（響應(yīng)時(shí)間＜1s，測(cè)量精度 ±2%）實(shí)時(shí)采集試驗(yàn)箱內(nèi)的輻照強(qiáng)度數(shù)據(jù)，經(jīng) PID 算法計(jì)算后，輸出調(diào)整指令至內(nèi)環(huán)。當(dāng)檢測(cè)到輻照強(qiáng)度因光源老化而下降時(shí)，外環(huán)會(huì)通過(guò)內(nèi)環(huán)逐步提升光源功率，直至輻照強(qiáng)度回歸至設(shè)定值。 雙閉環(huán) PID 控制的優(yōu)勢(shì)在于內(nèi)外環(huán)分工協(xié)作、互補(bǔ)不足。內(nèi)環(huán)快速抑制高頻干擾，外環(huán)則專注于低頻偏差修正，二者通過(guò)動(dòng)態(tài)耦合算法實(shí)現(xiàn)無(wú)縫銜接。同時(shí)，為進(jìn)一步優(yōu)化控制效果，系統(tǒng)還引入自適應(yīng)參數(shù)調(diào)節(jié)機(jī)制，根據(jù)不同光源特性與測(cè)試工況，自動(dòng)調(diào)整 PID 參數(shù)，避免傳統(tǒng)固定參數(shù)控制下出現(xiàn)的超調(diào)或調(diào)節(jié)滯后問(wèn)題。 某電子材料企業(yè)的實(shí)際應(yīng)用數(shù)據(jù)顯示，采用雙閉環(huán) PID 控制的 UV 試驗(yàn)箱，輻照強(qiáng)度穩(wěn)定性從傳統(tǒng)設(shè)備的 ±3% 提升至 ±0.5%。在 UV 固化工藝測(cè)試中，材料固化深度一致性顯著提高，產(chǎn)品不良率從 8% 降至 1.5%。該方案不僅有效解決了輻照強(qiáng)度波動(dòng)導(dǎo)致的測(cè)試失效問(wèn)題，還通過(guò)精準(zhǔn)控制延長(zhǎng)了 UV 光源的使用壽命，降低設(shè)備維護(hù)成本，為 UV 相關(guān)領(lǐng)域的高質(zhì)量測(cè)試與生產(chǎn)提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支撐。
|
| |
文件下載 圖片下載 |
|
|
地址：廣東-東莞-常平鎮(zhèn)常平中信路101號(hào)1號(hào)樓102室
電話：86-0769-81085056
郵箱：1683543290@qq.com