X射線衍射儀主要應用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結構分析、材料的結構宏觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等，根據(jù)實際需要可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算機軟件，組成具有特殊功能的衍射儀。是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結構的一種大型分析儀器，廣泛應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。

　　X射線衍射儀的原理：當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。

　　X射線衍射儀的用途：

　?。?）當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。

　　（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。

　?。?）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。

　?。?）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。

　?。?）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。