快溫變測(cè)試的核心是維持精準(zhǔn)的溫度變化速率（如 5-25℃/min），高低溫測(cè)試則要求箱內(nèi)溫度長(zhǎng)期穩(wěn)定在目標(biāo)值（波動(dòng)≤±0.5℃）。中途打開(kāi)箱門(mén)時(shí)，箱內(nèi)外存在巨大溫差的空氣會(huì)迅速交換。例如，當(dāng)箱內(nèi)處于 - 40℃低溫測(cè)試狀態(tài)，打開(kāi)箱門(mén)瞬間，外界常溫空氣涌入，會(huì)導(dǎo)致箱內(nèi)溫度在 1-2 分鐘內(nèi)上升 5-10℃；若箱內(nèi)正進(jìn)行 85℃高溫測(cè)試，外界冷空氣進(jìn)入會(huì)使局部溫度驟降，破壞原有的溫度場(chǎng)均勻性。這種溫度波動(dòng)并非設(shè)備正常調(diào)節(jié)的結(jié)果，會(huì)讓樣品經(jīng)歷非預(yù)期的溫度沖擊，與預(yù)設(shè)的測(cè)試條件產(chǎn)生偏差。

環(huán)境測(cè)試數(shù)據(jù)的價(jià)值在于可重復(fù)性和準(zhǔn)確性，而中途開(kāi)門(mén)添加樣品會(huì)使測(cè)試過(guò)程出現(xiàn) “斷點(diǎn)"。例如，在對(duì)電子元件進(jìn)行 - 40℃至 85℃的快溫變循環(huán)測(cè)試時(shí)，若在第 10 次循環(huán)中途開(kāi)門(mén)，溫度波動(dòng)會(huì)導(dǎo)致元件經(jīng)歷額外的熱應(yīng)力，后續(xù)測(cè)試數(shù)據(jù)無(wú)法反映其在連續(xù)循環(huán)下的真實(shí)性能。此外，開(kāi)門(mén)后重新穩(wěn)定溫度需要時(shí)間（通常 5-15 分鐘），這段時(shí)間內(nèi)的溫度曲線、樣品響應(yīng)數(shù)據(jù)會(huì)偏離預(yù)設(shè)軌跡，使整個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)鏈斷裂，失去參考意義。對(duì)于需要通過(guò)行業(yè)認(rèn)證的測(cè)試（如汽車(chē)零部件的 ISO 16750 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試），此類(lèi)操作會(huì)直接導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果無(wú)效。

設(shè)備的制冷 / 制熱系統(tǒng)為維持目標(biāo)溫度或溫變速率，會(huì)處于高負(fù)荷運(yùn)行狀態(tài)。中途開(kāi)門(mén)導(dǎo)致的溫度驟變，會(huì)迫使系統(tǒng)緊急啟動(dòng)功率調(diào)節(jié)（如壓縮機(jī)超頻運(yùn)轉(zhuǎn)、加熱器滿(mǎn)功率工作），這種瞬時(shí)負(fù)荷沖擊會(huì)加速壓縮機(jī)、電磁閥等核心部件的老化，縮短設(shè)備使用壽命。同時(shí)，低溫測(cè)試時(shí)箱門(mén)打開(kāi)，空氣中的水分會(huì)在蒸發(fā)器表面快速凝結(jié)成霜，甚至結(jié)冰，影響制冷效率；高溫測(cè)試時(shí)，箱內(nèi)熱氣外泄可能導(dǎo)致設(shè)備周邊溫度驟升，存在燙傷操作人員的風(fēng)險(xiǎn)，也可能影響周邊儀器的正常工作。